IC就是半導(dǎo)體元件產(chǎn)品的統(tǒng)稱，主板IC檢測(cè)是主板維修必備基礎(chǔ)知識(shí)，下面為主板IC檢測(cè)常見方法：

　　一、不在路檢測(cè)

　　這種方法是在ＩＣ未焊入電路時(shí)進(jìn)行的，一般情況下可用萬(wàn)用表測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ＩＣ進(jìn)行比較。

　　二、在路檢測(cè)

　　這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測(cè)ＩＣ各引腳在路（ＩＣ在電路中）直流電阻、對(duì)地交直流電壓以及總工作電流的檢測(cè)方法。這種方法克服了代換試驗(yàn)法需要有可代換ＩＣ的局限性和拆卸ＩＣ的麻煩，是檢測(cè)ＩＣ最常用和實(shí)用的方法。

　?。?。在路直流電阻檢測(cè)法

　　這是一種用萬(wàn)用表歐姆擋，直接在線路板上測(cè)量ＩＣ各引腳和外圍元件的正反向直流電阻值，并與正常數(shù)據(jù)相比較，來(lái)發(fā)現(xiàn)和確定故障的方法。測(cè)量時(shí)要注意以下三點(diǎn)：

　?。?）測(cè)量前要先斷開電源，以免測(cè)試時(shí)損壞電表和元件。

　?。?）萬(wàn)用表電阻擋的內(nèi)部電壓不得大于６Ｖ，量程最好用Ｒ×１００或Ｒ×１ｋ擋。

　?。?）測(cè)量ＩＣ引腳參數(shù)時(shí)，要注意測(cè)量條件，如被測(cè)機(jī)型、與ＩＣ相關(guān)的電位器的滑動(dòng)臂位置等，還要考慮外圍電路元件的好壞。

　?。?。直流工作電壓測(cè)量法

　　這是一種在通電情況下，用萬(wàn)用表直流電壓擋對(duì)直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測(cè)量；檢測(cè)ＩＣ各引腳對(duì)地直流電壓值，并與正常值相比較，進(jìn)而壓縮故障范圍，找出損壞的元件。測(cè)量時(shí)要注意以下八點(diǎn)：

　?。?）萬(wàn)用表要有足夠大的內(nèi)阻，至少要大于被測(cè)電路電阻的１０倍以上，以免造成較大的測(cè)量誤差。

　?。?）通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機(jī)，信號(hào)源要采用標(biāo)準(zhǔn)彩條信號(hào)發(fā)生器。

　?。?）表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞ＩＣ?？刹扇∪缦路椒ǚ乐贡砉P滑動(dòng)：取一段自行車用氣門芯套在表筆尖上，并長(zhǎng)出表筆尖約０。５ｍｍ左右，這既能使表筆尖良好地與被測(cè)試點(diǎn)接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點(diǎn)也不會(huì)短路。

　　（4）當(dāng)測(cè)得某一引腳電壓與正常值不符時(shí)，應(yīng)根據(jù)該引腳電壓對(duì)ＩＣ正常工作有無(wú)重要影響以及其他引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析，才能判斷ＩＣ的好壞。

　?。?）ＩＣ引腳電壓會(huì)受外圍元器件影響。當(dāng)外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開路或變值時(shí)，或外圍電路連接的是一個(gè)阻值可變的電位器，則電位器滑動(dòng)臂所處的位置不同，都會(huì)使引腳電壓發(fā)生變化。

　?。?）若ＩＣ各引腳電壓正常，則一般認(rèn)為ＩＣ正常；若ＩＣ部分引腳電壓異常，則應(yīng)從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有無(wú)故障，若無(wú)故障，則ＩＣ很可能損壞。

　　（7）對(duì)于動(dòng)態(tài)接收裝置，如電視機(jī)，在有無(wú)信號(hào)時(shí)，ＩＣ各引腳電壓是不同的。如發(fā)現(xiàn)引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨信號(hào)大小和可調(diào)元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定ＩＣ損壞。

　?。?）對(duì)于多種工作方式的裝置，如錄像機(jī)，在不同工作方式下，ＩＣ各引腳電壓也是不同的。

　?。?。交流工作電壓測(cè)量法

　　為了掌握ＩＣ交流信號(hào)的變化情況，可以用帶有ｄＢ插孔的萬(wàn)用表對(duì)ＩＣ的交流工作電壓進(jìn)行近似測(cè)量。檢測(cè)時(shí)萬(wàn)用表置于交流電壓擋，正表筆插入ｄＢ插孔；對(duì)于無(wú)ｄＢ插孔的萬(wàn)用表，需要在正表筆串接一只０。１～０。５μＦ隔直電容。該法適用于工作頻率比較低的ＩＣ，如電視機(jī)的視頻放大級(jí)、場(chǎng)掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測(cè)的數(shù)據(jù)是近似值，只能供參考。

　　４?？傠娏鳒y(cè)量法

　　該法是通過(guò)檢測(cè)ＩＣ電源進(jìn)線的總電流，來(lái)判斷ＩＣ好壞的一種方法。由于ＩＣ內(nèi)部絕大多數(shù)為直接耦合，ＩＣ損壞時(shí)（如某一個(gè)ＰＮ結(jié)擊穿或開路）會(huì)引起后級(jí)飽和與截止，使總電流發(fā)生變化。所以通過(guò)測(cè)量總電流的方法可以判斷ＩＣ的好壞。也可用測(cè)量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計(jì)算出總電流值。