與PC內(nèi)的其他配件相比，內(nèi)存的結(jié)構(gòu)與生產(chǎn)相對(duì)簡(jiǎn)單，其不過(guò)將多粒存儲(chǔ)芯片通過(guò)簡(jiǎn)單的電路組合起來(lái)，而存儲(chǔ)芯片(DRAM chips)在出廠前一般也都經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試，因此其出現(xiàn)故障的概率相對(duì)要小于其他部件。但是，任何一款電子器件在工作與使用過(guò)程中對(duì)某些因素都是脆弱的，內(nèi)存也不例外：

　　電壓：市電電壓過(guò)大的波動(dòng)，或者PC機(jī)上使用劣質(zhì)電源，也會(huì)給內(nèi)存帶來(lái)?yè)p害，有時(shí)候這種損害可能是馬上顯現(xiàn)出來(lái)，而另一些情況則可以是長(zhǎng)期的、逐漸的降低內(nèi)存的電氣指數(shù)。另外，長(zhǎng)期對(duì)內(nèi)存采用加壓超頻的方法也同樣會(huì)損害內(nèi)存。

　　靜電：靜電是導(dǎo)致內(nèi)存模塊損壞的最主要因素。因此，在我們安裝或卸載內(nèi)存模塊時(shí)，如果有條件可以使用防靜電手環(huán)，不然，接觸內(nèi)存模塊前要采取一定手段將身上的靜電散去，如摸一下接地的金屬制品象暖氣管道之類(lèi)。另外，在接觸內(nèi)存模塊時(shí)不要用力過(guò)大導(dǎo)致“捏壞”存儲(chǔ)芯片或周邊電路，不要以為這是在開(kāi)玩笑，筆者就曾不止一次見(jiàn)過(guò)用戶(hù)在拔插內(nèi)存時(shí)將內(nèi)存模塊上的小電壓“碰”掉的情況。

　　工作環(huán)境：如果您的PC機(jī)箱內(nèi)充滿(mǎn)灰塵，或者PC工作環(huán)境相對(duì)潮濕，那么，長(zhǎng)期工作在這類(lèi)環(huán)境因素下，內(nèi)存模塊的壽命會(huì)大大降低。另外，如果您的PC散熱不好的話，內(nèi)存長(zhǎng)期工作在高溫下，無(wú)論相應(yīng)的熱量是由內(nèi)存模塊還是周?chē)考a(chǎn)生，也會(huì)縮短其壽命。

　　主板內(nèi)存插槽和內(nèi)存周邊電路：按說(shuō)這不屬于我們今天要探討的內(nèi)存損壞的范疇，不過(guò)，主板內(nèi)存插槽在大力的拔插下同樣可能損害，而主板上電路也同樣會(huì)因上文提及的因素而損壞，而很多時(shí)候這種情況下癥狀與內(nèi)存模塊損壞的癥狀很難區(qū)分，只能采取替換法才能確診。