2、如果您的系統(tǒng)中有多條內(nèi)存，下一步的工作便是要找出哪條內(nèi)存有問(wèn)題。當(dāng)然，如果您近期剛升級(jí)過(guò)內(nèi)存或加了一條內(nèi)存，那么也許判斷很簡(jiǎn)單，問(wèn)題便可能出在新加的內(nèi)存或新加內(nèi)存所在的插槽上，這相對(duì)來(lái)說(shuō)好判斷一些。而對(duì)一般情況，即近期內(nèi)存并無(wú)變動(dòng)，要找出故障只能逐一測(cè)試，即只保留一條內(nèi)存，將其他拔下，運(yùn)行測(cè)試程序， 然后在同一插槽上對(duì)其他內(nèi)存條也做同樣的測(cè)試。如果在測(cè)試中只有一條內(nèi)存出現(xiàn)故障，那么，故障原因便找到了。如果測(cè)試中每條內(nèi)存均出現(xiàn)同樣的錯(cuò)誤報(bào)告，最大的可能便是該插槽有問(wèn)題，當(dāng)然，也不能排除所有內(nèi)存條都有故障的可能，這就需要換個(gè)插槽或換塊主板進(jìn)行測(cè)試了。

　　對(duì)多條內(nèi)存還有另一種可能，即單條測(cè)試均沒(méi)有問(wèn)題，但當(dāng)將所有內(nèi)存都插上時(shí)運(yùn)行測(cè)試程序則報(bào)錯(cuò)，這可能有兩個(gè)原因，1、內(nèi)存之間的兼容性不好，不能共同工作；2、更大的可能是主板內(nèi)存插槽中某一個(gè)有問(wèn)題，對(duì)這種情況可以分別用一條內(nèi)存逐一在各內(nèi)存插槽上運(yùn)行測(cè)試，以找出存在故障的內(nèi)存插槽。

三、導(dǎo)致內(nèi)存出現(xiàn)故障的根本原因

　　與PC內(nèi)的其他配件相比，內(nèi)存的結(jié)構(gòu)與生產(chǎn)相對(duì)簡(jiǎn)單，其不過(guò)將多粒存儲(chǔ)芯片通過(guò)簡(jiǎn)單的電路組合起來(lái)，而存儲(chǔ)芯片(DRAM chips)在出廠前一般也都經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試，因此其出現(xiàn)故障的概率相對(duì)要小于其他部件。但是，任何一款電子器件在工作與使用過(guò)程中對(duì)某些因素都是脆弱的，內(nèi)存也不例外：

　　電壓：市電電壓過(guò)大的波動(dòng)，或者PC機(jī)上使用劣質(zhì)電源，也會(huì)給內(nèi)存帶來(lái)?yè)p害，有時(shí)候這種損害可能是馬上顯現(xiàn)出來(lái)，而另一些情況則可以是長(zhǎng)期的、逐漸的降低內(nèi)存的電氣指數(shù)。另外，長(zhǎng)期對(duì)內(nèi)存采用加壓超頻的方法也同樣會(huì)損害內(nèi)存。

　　靜電：靜電是導(dǎo)致內(nèi)存模塊損壞的最主要因素。因此，在我們安裝或卸載內(nèi)存模塊時(shí)，如果有條件可以使用防靜電手環(huán)，不然，接觸內(nèi)存模塊前要采取一定手段將身上的靜電散去，如摸一下接地的金屬制品象暖氣管道之類。另外，在接觸內(nèi)存模塊時(shí)不要用力過(guò)大導(dǎo)致“捏壞”存儲(chǔ)芯片或周邊電路，不要以為這是在開玩笑，筆者就曾不止一次見過(guò)用戶在拔插內(nèi)存時(shí)將內(nèi)存模塊上的小電壓“碰”掉的情況。

　　工作環(huán)境：如果您的PC機(jī)箱內(nèi)充滿灰塵，或者PC工作環(huán)境相對(duì)潮濕，那么，長(zhǎng)期工作在這類環(huán)境因素下，內(nèi)存模塊的壽命會(huì)大大降低。另外，如果您的PC散熱不好的話，內(nèi)存長(zhǎng)期工作在高溫下，無(wú)論相應(yīng)的熱量是由內(nèi)存模塊還是周圍部件產(chǎn)生，也會(huì)縮短其壽命。

　　主板內(nèi)存插槽和內(nèi)存周邊電路：按說(shuō)這不屬于我們今天要探討的內(nèi)存損壞的范疇，不過(guò)，主板內(nèi)存插槽在大力的拔插下同樣可能損害，而主板上電路也同樣會(huì)因上文提及的因素而損壞，而很多時(shí)候這種情況下癥狀與內(nèi)存模塊損壞的癥狀很難區(qū)分，只能采取替換法才能確診。